共模抑制比測試儀雙層屏蔽結構，避免內部與外部的噪聲干擾

更新時間：2025-12-19

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　　共模抑制比測試儀的雙層屏蔽結構通過物理隔離與電磁屏蔽的雙重機制，有效抑制內部電路噪聲外泄及外部電磁干擾侵入，從而保障測試信號的純凈度與測量精度。以下從結構原理、設計要點展開說明：

　　一、共模抑制比測試儀雙層屏蔽結構原理：

　　1.內層屏蔽：隔離內部噪聲

　　作用：包裹測試儀的核心電路（如信號放大器、ADC、電源模塊等），防止內部高頻噪聲（如開關電源紋波、數字電路時鐘信號）通過電磁輻射或傳導干擾敏感測量電路。

　　實現方式：

　　導電材料：采用高導電率材料（如銅、鋁）制成屏蔽罩，利用電磁感應原理將內部噪聲電流引導至接地端，減少輻射泄漏。

　　接地設計：內層屏蔽通過低阻抗路徑（如短粗導線）單點接地，避免多點接地形成地環路，進一步降低噪聲耦合。

　　2.外層屏蔽：抵御外部干擾

　　作用：阻隔外部電磁場（如工頻干擾、無線電信號、鄰近設備輻射）對測試儀的侵入，尤其適用于強電磁環境（如工業現場、實驗室高頻設備附近）。

　　實現方式：

　　多層復合材料：外層可采用金屬網+導電涂層（如銀漿）的復合結構，兼顧高頻屏蔽（金屬網）與低頻屏蔽（導電涂層）效果。

　　濾波設計：在外層屏蔽與內部電路之間加入濾波電路（如共模電感、EMI濾波器），針對性抑制特定頻段的干擾信號。

　　3.雙層協同機制

　　隔離層級：內層屏蔽聚焦內部噪聲控制，外層屏蔽專注外部干擾防護，形成“內部凈化+外部隔離”的雙重防線。

　　接地策略：雙層屏蔽獨立接地（或通過隔離變壓器實現浮地），避免內外層接地電位差引入共模噪聲。

　　二、共模抑制比測試儀關鍵設計要點：

　　1.材料選擇

　　導電性：優先選用高導電率材料（如銅、鋁），降低屏蔽層電阻，減少渦流損耗。

　　磁導率：針對低頻磁場干擾，可加入高磁導率材料（如坡莫合金）增強屏蔽效果。

　　耐腐蝕性：外層屏蔽需具備抗環境腐蝕能力（如鍍鋅、噴涂防護漆），延長使用壽命。

　　2.屏蔽完整性

　　縫隙處理：屏蔽層接縫處采用導電膠帶、焊接或彈簧片密封，防止電磁泄漏。

　　穿孔設計：電纜、接口等穿孔處使用屏蔽套管或濾波連接器，維持屏蔽連續性。

　　3.接地優化

　　單點接地：內層屏蔽單點接地至測試儀內部地，外層屏蔽單點接地至保護地（PE），避免地環路。

　　低阻抗路徑：接地導線需短而粗，降低接地阻抗。

　　4.熱管理

　　散熱設計：屏蔽層可能影響內部電路散熱，需在屏蔽罩上開設散熱孔或采用導熱材料（如導熱硅脂）輔助散熱。